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吴斌 (吴斌.) (学者:吴斌) | 刘飞鹏 (刘飞鹏.) | 杨宁祥 (杨宁祥.) | 刘秀成 (刘秀成.) (学者:刘秀成) | 刘尧 (刘尧.)

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本发明公开了一种磁致伸缩导波和漏磁双功能扫查器,由扫查器本体、磁致伸缩导波检测模块和漏磁阵列检测模块构成。扫查器本体内置有U型永磁磁路,用于对待测结构件进行偏置磁化,传感器抽盒内包括矩形线圈及其适配器或漏磁阵列传感器。传感器抽盒内电路元件均与通用电气接口连接,以与外部磁致伸缩导波和漏磁阵列检测模块进行信号传输。编码器通过齿轮传动装置安装在导轮轴上,记录导轮扫查过程中的位移。手持扫查器本体沿粘贴在待测结构表面的铁钴合金条带进行移动,可以采集磁致伸缩水平剪切模态导波在结构中的反射信号,快速确定结构中疑似缺陷位置。本发明可有效提高大范围内结构缺陷的定位速度和降低误检率。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明授权

申请(专利)号: CN202010237963.9

申请日期: 2020-03-30

公开(公告)日: 2022-12-16

公开(公告)号: CN111521689B

申请(专利权): 北京工业大学;;广东省特种设备检测研究院珠海检测院

法律状态: 授权

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