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原子级原位变形测量装置
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本发明公开了一种原子级原位变形测量装置。 该装置包括支撑部分，驱动部分和承载部分，支撑部分为金属圆环，承载部分为设置在金属圆环中心位置的圆形结构的表面抛光金属板； 驱动部分包括不少于两个的双金属片组，双金属片组的一端固定连接在金属圆环上，双金属片组的另一端固定连接在金属圆环上； 双金属片组设置在金属板的外切线上，相邻两组双金属片之间的夹角相同； 每个双金属片组包括两个膨胀系数不同的金属片。 说明书的1/2附图3附图。 图1。 2
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明申请
申请(专利)号： AU2021202023
申请日期： 2021-03-31
公开(公告)日： 2022-10-20
公开(公告)号： AU2021202023A1
申请(专利权)： Beijing University Of Technology
法律状态： 撤回
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