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高学金 (高学金.) (学者:高学金) | 李学凤 (李学凤.) | 高慧慧 (高慧慧.) | 韩华云 (韩华云.)

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本发明公开了一种基于信息熵的半监督FCM和SAE的多阶段发酵过程故障监测方法。首先对发酵过程的数据,利用基于信息熵的半监督模糊C均值聚类算法完成稳定阶段的划分;之后引入Silhouette系数划分每两个稳定阶段的过渡阶段,故障监测包括:利用稀疏自动编码器对每个稳定阶段和过渡阶段分别建立监测模型,构建重构误差作为统计量指标。然后再利用核密度估计方法确定每个样本统计量指标的控制限;最后将测试批次样本代入模型,计算其统计量指标,并与正常样本控制限相比,如果超出控制限,则为故障样本。本发明对故障更加敏感,增强了监控模型的鲁棒性,提高了故障监测的准确性,可以减少过程监测中误报、漏报的发生。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN202111541540.7

申请日期: 2021-12-16

公开(公告)日: 2022-04-05

公开(公告)号: CN114280935A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 实质审查

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