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一种基于多尺度卷积神经网络的手机表面缺陷精准识别方法
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一种基于多尺度卷积神经网络的手机表面缺陷精准识别方法，针对废旧手机回收过程中表面缺陷难以精准识别的问题。本发明利用灰度化和索贝尔算子对数据集进行预处理得到清晰的图像数据，构造了一种基于多尺度卷积神经网络的手机表面缺陷精准识别方法实现对表面缺陷的快速准确识别。本发明对不同场景下的手机表面缺陷识别均保持较好的快速性和准确性，能够提高废旧手机回收的效率和回收企业经济效益。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明申请
申请(专利)号： CN202111252569.3
申请日期： 2021-10-27
公开(公告)日： 2022-02-25
公开(公告)号： CN114092410A
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 实质审查
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