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陈洪芳 (陈洪芳.) | 梁超伟 (梁超伟.) | 李宝山 (李宝山.) | 石照耀 (石照耀.) (学者:石照耀)

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本发明公开了双轴式圆弧型大尺寸渐开线样板测量不确定度分析方法,通过分析影响双轴式圆弧型大尺寸渐开线样板的重要影响因素,包括以下不确定度分量:测量中心轴上下顶尖孔同轴度、基准块中心孔的圆心轴与检测圆弧的圆心轴的同轴度、样板自身重力负载、环境温度变化、定心轴与测量中心轴的平行度、测量中心轴阶梯轴的同轴度、测量中心轴阶梯轴的垂直度、定心轴圆柱度、测量中心轴圆柱度、框架有效长度、测头半径、样板旋转角度。利用ANSYS软件求解出部分不确定度分量,进而提高对双轴式圆弧型大尺寸渐开线样板校准齿轮测量仪器时测量不确定度分析结果的可信度。根据误差不确定度分量的分配,计算样板各不确定度分量的合成误差,判断样板的精度等级。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明授权

申请(专利)号: CN202010741557.6

申请日期: 2020-07-29

公开(公告)日: 2022-02-15

公开(公告)号: CN112033336B

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 授权

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