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一种基于功率谱的超声散射子直径成像方法
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本发明公开了一种基于功率谱的超声散射子直径成像方法，是基于超声射频信号，计算功率谱，再计算超声散射子直径参数并计算超声散射子直径参数图像的方法。将滑动窗口在超声射频信号上滑动，基于功率谱，计算每个滑动窗口内的超声散射子参数，得到超声散射子参数值矩阵，将超声散射子参数值矩阵插值为超声射频信号的大小，并进行颜色映射，得到超声散射子直径参数图像。本发明的超声散射子直径成像方法可用于乳腺、肝脏等生物组织的超声组织定征。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明授权
申请(专利)号： CN201811086467.7
申请日期： 2018-09-18
公开(公告)日： 2021-07-30
公开(公告)号： CN109247951B
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 授权
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环境与生命学部
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