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何存富 (何存富.) (学者:何存富) | 高兆祥 (高兆祥.) | 刘秀成 (刘秀成.) (学者:刘秀成)

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本发明公布了适用于凹曲面的微磁无损检测传感器,用于具有凹曲面材料的微磁信号获取。两种传感器均由U型电磁铁、霍尔元件、双股绕制线圈、调理电路板以及外壳构成,但U型电磁铁中磁芯的形状以及磁芯末端与曲面的耦合方式不同。适用于内圆柱面的传感器的磁芯具有牛角形状,磁芯末端与待测曲面以线接触形式进行耦合。适用于复杂凹曲面的传感器的磁芯具有局部凸台形状,凸台顶部与待测曲面以线接触形式进行耦合。两种传感器均可以测量具有凹曲面的材料中的切向磁场强度、磁巴克豪森噪声、多频涡流和增量磁导率信号。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN202110416546.5

申请日期: 2021-04-19

公开(公告)日: 2021-07-13

公开(公告)号: CN113109421A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 实质审查

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