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崔玲丽 (崔玲丽.) (学者:崔玲丽) | 杜建喜 (杜建喜.) | 刘志峰 (刘志峰.) (学者:刘志峰) | 张超 (张超.)

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摘要:

本发明公开了一种基于自适应MCKD的轴承外圈早期故障诊断方法,该方法为一种针对轴承外圈早期故障的诊断方法。本发明针对MCKD降噪效果受滤波器阶数L及位移顺序M影响的问题,研究了轴承的故障机理,提出了一种基于自适应MCKD的轴承外圈早期故障诊断方法。在不同M值情况下,分别计算Teager谱峭度均值,选取最优位移顺序M,再以Teager谱峭度为目标函数,利用迭代算法搜寻最优滤波器阶数L,通过包络谱提取微弱故障特征。对比最小熵解卷积(MED)算法,本方法显示了更高的准确度,证明了本方法对轴承外圈早期故障诊断的准确性。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN201810956206.X

申请日期: 2018-08-21

公开(公告)日: 2018-12-21

公开(公告)号: CN109063672A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 驳回

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