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避免EBSD测试样品表面再次抛光的方法
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避免EBSD测试样品表面再次抛光的方法，属于样品制备领域。EBSD测试前，通过EBSD对样品的晶体取向进行观察；将样品封存于真空的玻璃管中或放置于含有干燥剂的密封的玻璃器皿中；一起置于力学、热学以及电学的测试环境中，进行测试；将测试完的样品从真空的玻璃管或含有干燥剂的密封的玻璃器皿中取出来进行EBSD测试，分析样品的晶体取向信息。该方法可以有效避免样品的再次抛光，确保实验结果和结论的准确性。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明申请
申请(专利)号： CN201710313852.X
申请日期： 2017-05-05
公开(公告)日： 2017-08-04
公开(公告)号： CN107014662A
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 撤回
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