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摘要：
一种关于数控机床热效应下定位误差温度测点组合的选择优化方法，该方法基于灰关联策略和粗糙集理论来辨识各个位置的温度测点对机床定位误差影响大小。在机床特殊位置上安装k个温度传感器来测量机床在运行当中随时间变化的实时温度值，同时使用激光干涉仪测量受温度影响的定位误差值；应用灰关联策略筛选出n个敏感温度测点位置；根据粗糙集理论的原理，对机床定位误差和温度数据进行预处理，构成一个决策表；利用粗糙集约简软件得出m个可行的温度测点组合；综合分析辨识机床最优温度测点组合。通过本发明可以解决数控机床定位误差补偿建模过程中温度测点过多或补偿模型鲁棒性差的问题。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明授权
申请(专利)号： CN201410471517.9
申请日期： 2014-09-16
公开(公告)日： 2017-02-22
公开(公告)号： CN104216334B
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 授权
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