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一种同步辐射高压单晶衍射方法
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本发明公开了一种同步辐射高压单晶衍射方法，其包括入射光限光及强度监测、样品定位与旋转、二维探测器数据采集、探测数据指标化和衍射强度校正等步骤，该实验方法可以得到单晶样品在压力条件下的准确强度信息，为后续结构测定及精修、高压相变研究、无公度结构测定、电荷密度测量等研究工作创造良好条件。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明授权
申请(专利)号： CN201410079911.8
申请日期： 2014-03-06
公开(公告)日： 2017-02-08
公开(公告)号： CN104374788B
申请(专利权)： 中国科学院高能物理研究所;;北京工业大学
法律状态： 未缴年费
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