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何存富 (何存富.) (学者:何存富) | 杨玉娥 (杨玉娥.) | 吴斌 (吴斌.) (学者:吴斌)

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本发明涉及微波反射系数相位法对热障涂层孔隙率的测量方法,属于微波无损检测技术领域。本发明利用微波网络分析仪对热障涂层的微波反射系数的相位和幅值进行检测,根据相关的公式计算出热障涂层的孔隙率,建立微波信号反射系数相位与热障涂层孔隙率的关系,从而利用微波反射系数相位表征热障涂层的孔隙率。本方法为无损检测方法,可以对热障涂层进行非破坏、无污染检测。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明授权

申请(专利)号: CN201110351262.9

申请日期: 2011-11-08

公开(公告)日: 2014-01-01

公开(公告)号: CN102564914B

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 授权

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