摘要：
通过飞秒激光单脉冲实验,探究了偏振方向(0°、45°、90°、135°)对x-切铌酸锂(LN)晶体损伤阈值的影响,发现材料损伤阈值呈现明显的偏振依赖性,90°偏振方向的损伤阈值低于其他偏振方向.通过第一性原理计算,确认了飞秒激光引起的隧穿电离主要导致Nb—O键断裂.而当入射偏振角度为90°时,易导致更多的Nb—O键断裂,在该偏振方向上的损伤阈值降低.该研究有助于更深入地理解超快激光在LN晶体表面的烧蚀过程,对LN晶体表面功能性器件激光制备有重要的参考价值.
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