请登录 >
English| 简体中文

  • 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

高级检索

作者：

Xing, Cheng (Xing, Cheng.) | Yan, Yinzhou (Yan, Yinzhou.) (学者：闫胤洲) | Jiang, Yijian (Jiang, Yijian.) (学者：蒋毅坚)

收录：

EI Scopus

摘要：

A　dielectric　microsphere-embedded　film　was　developed　as　a　flexible　Raman　enhancer,　which　provides　a　＞10-fold　enhancement　ratio　and　can　be　coupled　with　traditional　SERS　active　substrates　for　ultrasensitive　Raman　trace-detection.　©　OSA　2018

关键词：

Trace analysis Substrates Dielectric materials Microspheres

作者机构：

  • [ 1 ] [Xing, Cheng]Institute of Laser Engineering, Beijing University of Technology, Beijing; 100124, China
  • [ 2 ] [Yan, Yinzhou]Institute of Laser Engineering, Beijing University of Technology, Beijing; 100124, China
  • [ 3 ] [Jiang, Yijian]Institute of Laser Engineering, Beijing University of Technology, Beijing; 100124, China

通讯作者信息：

电子邮件地址：

查看成果更多字段

相关关键词：

相关文章：

来源 ：

年份： 2018

卷： Part F113-CLEOPR 2018

语种： 英文

被引次数：

WoS核心集被引频次：

SCOPUS被引频次：

ESI高被引论文在榜： 0 展开所有

万方被引频次：

中文被引频次：

近30日浏览量： 1

归属院系：

材料与制造学部 本学院/部未明确归属的数据

材料与制造学部 激光工程研究院

全文获取

DOI 图书馆发现搜索 百度学术搜索 Engineering Village
在线人数/总访问数：2166/4264363
地址：北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编：100124) 联系我们：010-67392185
版权所有：北京工业大学图书馆 站点建设与维护：北京爱琴海乐之技术有限公司