High-resolution　transmission　electron　microscopy　was　used　to　study　interfacial　characteristics　between　the　plate-shaped　sigma　phase　and　the　gamma　phase　in　a　Ni-based　single　crystal　superalloy.　The　atomic　structure　of　the　sigma/gamma　interface　constituted　by　steps　was　presented.　However,　the　HRTEM　micrograph　of　sigma　phase　is　not　almost　identical　with　the　veritable　atomic　arrangement　of　sigma　phase　on　the　same　zone　axis.　The　image　formation　of　HRTEM　relies　on　phase　contrast,　instead　of　the　amplification　of　the　atomic　arrangement.　From　the　simulated　HRTEM　images,　the　approximate　defocus　and　thickness　of　the　sample　can　be　got　as　-　3　nm　and　6　nm　sigma　phase　has　the　following　crystallographic　orientations　relations　with.　matrix:　[0　0　1]gamma//[1　1　2]　sigma,　(1　1　0)gamma//(1　-1　0)　sigma,　(-1　1　0)gamma//(1　1　-1)　sigma,　which　can　be　proved　by　the　stereographic　projection.　The　interfacial　steps　are　made　up　by　(1　1　0)gamma　and　(-1　1　0)gamma　or　(1　-1　0)　sigma　and　(1　1　-1)　sigma.　In　the　interface　steps,　the　length　of　(-1　1　0)gamma//(1　1　-1)　sigma　is　longer　than　(1　1　0)gamma//(1　-1　0)　sigma,　which　is　caused　by　that　distortion　factor　of　(-1　1　0)gamma//(1　1　-1)　sigma　is　much　smaller　than　that　of　(1　1　0)gamma//(1　-1　0)　sigma.