This　paper　reports　a　study　of　time-resolved　deformation　process　at　the　atomic　scale　of　a　nanocrystalline　Pt　thin　film　captured　in　situ　under　a　transmission　electron　microscope.　The　main　mechanism　of　plastic　deformation　was　found　to　evolve　from　full　dislocation　activity-enabled　plasticity　in　large　grains　(with　grain　size　d　＞　10　nm),　to　partial　dislocation　plasticity　in　smaller　grains　(with　grain　size　10　nm　＜　d　＜　6　nm),　and　grain　boundary-mediated　plasticity　in　the　matrix　with　grain　sizes　d　＜　6　nm.　The　critical　grain　size　for　the　transition　from　full　dislocation　activity　to　partial　dislocation　activity　was　estimated　based　on　consideration　of　stacking　fault　energy.　For　grain　boundary-mediated　plasticity,　the　possible　contributions　to　strain　rate　of　grain　creep,　grain　sliding　and　grain　rotation　to　plastic　deformation　were　estimated　using　established　models.　The　contribution　of　grain　creep　is　found　to　be　negligible,　the　contribution　of　grain　rotation　is　effective　but　limited　in　magnitude,　and　grain　sliding　is　suggested　to　be　the　dominant　deformation　mechanism　in　nanocrystalline　Pt　thin　films.　This　study　provided　the　direct　evidence　of　these　deformation　processes　at　the　atomic　scale.